液槽式高低溫沖擊試驗(yàn)箱-詳細(xì)資料歡迎垂詢：

 一、液槽式高低溫沖擊試驗(yàn)箱用途：

       適用于國防工業(yè),航空工業(yè)、兵工業(yè)、自動化零組件、汽車部件、電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品、塑 膠、化工業(yè)、食品業(yè)、 BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品等設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)（沖擊），適應(yīng)于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組無一不需要它的理想測試工具. 

二、液槽式高低溫沖擊試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)：

1. GB10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

2. GB11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

3. GB10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

4. GB2423.1 低溫試驗(yàn)、試驗(yàn)A

5. GB2423.2 高溫試驗(yàn)、試驗(yàn)B

6. GB2423.22 溫度變化試驗(yàn)、試驗(yàn)N

7. IEC68-2-14 試驗(yàn)N

8. MIL-STD-88E美軍試樣試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

9. 國GJB150.3-86

10. 國GJB150.4-86     

11. GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法 　

12.GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

三、技術(shù)參數(shù)： 

1、 溫度范圍：-20℃/-40℃/-55℃/-65℃～+150℃ 

2、 溫度上限：+200℃ 

3、 溫度下限：-80℃ 

4、 溫度偏差：±2℃ 

5、 溫度波動度：±0.5℃ 

6、 溫度恢復(fù)時間：5min 

7、 溫度恢復(fù)條件：高溫+150℃保溫≥35min低溫-40℃保溫≥30min.

8、 試品轉(zhuǎn)移方式：采用氣動   

9、試品重量：≤3kg 

10、高溫室升溫時間：35min (+20℃～+170℃) 

11、低溫室降溫時間：70min (+20℃～-55℃) 

12、噪音：（dB）≤65 

13、電源：AC380V±10％/50/60Hz+保護(hù)接地 

14、總功率：15KW 

六、液槽式高低溫沖擊試驗(yàn)箱型號及內(nèi)箱尺寸（W寬XH高X深D）                              

ZT-80A-S　   W寬400XH高500XD深400mm

ZT-150A-S　W寬500XH高600XD深500mm

ZT-252A-S     W寬600XH高700XD深600mm   

ZT-408A-S     W寬600XH高850XD深800mm