恒溫低氣壓試驗(yàn)箱-詳細(xì)資料歡迎垂詢

一、特點(diǎn)：

1.平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)（BTHC）,以P.I.D.方式控制SSR,使工作室內(nèi)保持一定的壓力，并采用智

   能型數(shù)字溫度調(diào)節(jié)儀進(jìn)行溫度的顯示與控制設(shè)定，故能長(zhǎng)期穩(wěn)定使用.

2.全新*的造型設(shè)計(jì)，外觀高質(zhì)感水平,系統(tǒng)提取先進(jìn)技術(shù)之精華設(shè)計(jì)制造.

3.采用全毛細(xì)管,自動(dòng)負(fù)載容量調(diào)整系統(tǒng)技術(shù),較膨脹伐系統(tǒng)更穩(wěn)定可靠,使高低溫自由轉(zhuǎn)

   換、設(shè)置、顯示更加精確，升降溫速度快速、平穩(wěn)、均勻，為使用者節(jié)約寶貴時(shí)間.

二、參數(shù)指標(biāo):

1. 溫度范圍: -70~ 150℃/-50~ 150℃/-40~ 150℃/-20~ 150℃/0~ 150℃

2. 控制穩(wěn)定度 ： ±0.5℃

3. 分布均勻度 ：±1.5℃

4. 正常升溫時(shí)間 ： 20℃~ 150℃小于45分鐘

5. 正常降溫時(shí)間： 20~-40℃小于60分鐘

6. 溫度波動(dòng)度: ±0.5℃.

7. 溫度均勻度: ±1.5℃.

8. 氣壓范圍：常壓（1.01325×105 Pa）～0.5kPa

   u 壓力偏差：當(dāng)常壓～壓力≥40kPa時(shí)，誤差 ≤±2.0kPa；

   u 當(dāng) 2kPa≤壓力＜40kPa時(shí)，誤差≤±5％；

   u 當(dāng)壓力≤2kPa～0.5kPa時(shí)，誤差 ≤±0.1kPa；

   u 降壓速率: 常壓~0.5KPa ≤45min（常溫、箱內(nèi)干燥）

   u 壓力恢復(fù)速率: ≤10kpa/min；

9. 測(cè)時(shí)間設(shè)置：0～99.59 Hr.

三、選型及工作尺寸：

ZT-CTH-80LY        W寬40XH高50XD深40cm

ZT-CTH-150Y　     W寬50XH高60XD深50cm

ZT-CTH-225Y        W寬60XH高75XD深50cm

ZT-CTH-306Y        W寬60XH高85XD深60cm

ZT-CTH-408Y        W寬60XH高85XD深80cm

ZT-CTH-800Y　     W寬100XH高100XD深80cm

ZT-CTH-1000Y      W寬100XH高100XD深100cm

四、安全保護(hù)裝置：

1.工作室超溫保護(hù)裝置.

2.加熱器短路、過(guò)載.

3.壓縮機(jī)過(guò)流過(guò)熱保護(hù)裝置.

4.漏電短路器保護(hù)開(kāi)關(guān).

5.鼓風(fēng)電機(jī)過(guò)載過(guò)流

6.壓縮機(jī)壓力保護(hù)裝置

五、恒溫低氣壓試驗(yàn)箱執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)：

1. GB/T10589-1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件.

2. GB/T10592-1989高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件.

3. GB/ T 2421-1991《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 總則》.

4. GB/ T 2423.21- 1991《 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)M:低氣壓試驗(yàn)方法》 .

5. GB/ T 2423.25- 1992《 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試

   驗(yàn)方法》 .

6. GB/ T 2423.26- 1992《 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試

   驗(yàn)方法》 .

7. GB/2423.34-86.MIL-STD883（方法1004.2）高低溫組合循環(huán)試驗(yàn).

8. GB/T2423.4-93（MIL-STD810）方法507.2程序.